Discussion of Ways to Energy-Filter the Electron Backscattering Pattern (EBSP) in the Scanning Electron Microscope (SEM).
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
the scanning electron microscope
it is only thirteen years since the scanning electron microscope has been available commercially. yet, even in this short period of time, this instrument has been a powerful tool in the investigation of topography, electrical and magnetic properties, crystal structure, cathodoluminescent characteristics etc. of solid specimens. today, this type of microscope has opened its place alongside the c...
متن کاملthe role of russia in transmission of energy from central asia and caucuses to european union
پس ازفروپاشی شوروی،رشد منابع نفت و گاز، آسیای میانه و قفقاز را در یک بازی ژئوپلتیکی انرژی قرار داده است. با در نظر گرفتن این منابع هیدروکربنی، این منطقه به یک میدانجنگ و رقابت تجاری برای بازی های ژئوپلتیکی قدرت های بزرگ جهانی تبدیل شده است. روسیه منطقه را به عنوان حیات خلوت خود تلقی نموده و علاقمند به حفظ حضورش می باشد تا همانند گذشته گاز طبیعی را به وسیله خط لوله مرکزی دریافت و به عنوان یک واس...
15 صفحه اولSmart Flexible Microrobots for Scanning Electron Microscope (SEM) Applications
In the scanning electron microscope (SEM), specially designed microrobots can act as a flexible assembly facility for hybrid microsystems, as probing devices for in-situ tests on IC structures or just as a helpful teleoperated tool for the SEM operator when examining samples. Several flexible microrobots of this kind have been developed and tested. Driven by piezoactuators, these few cubic cent...
متن کاملThe Scanning Confocal Electron Microscope
The Scanning Confocal Electron Microscope, is an instrument which permits the observation and characterization of sub-surface structures of thick, optically opaque materials at nanometer level resolutions. The instrument merges the capabilities of the scanning, transmission and x-ray microscopes, and achieves unprecedented resolutions in optically dense materials, by implementing the technology...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Microscopy and Microanalysis
سال: 2002
ISSN: 1431-9276,1435-8115
DOI: 10.1017/s1431927602102042